Solution Department Work List
Ama
TFT/CF 공정상 발생하는 얼룩을 검출하는 장비
CTM of PES
ES(Panel Electronics Signal)의 접촉 검사 장비
Encap Inkjet
Encap PCL을 Ink 분사 방식으로 Coating하는 장비
Bezel Inkjet
Panel TFT면의 외곽 Bezel영역에 차광용 Black Ink를 분사하는 장비
OLED Lighting Inkjet
OLED 조명의 편광 필름을 대체하는 공정 장비
SC Inkjet
휴대폰 후면 Cover Glass를 Coating하는 장비
PEG Glass Inspector
고해상도 Camera를 이용하여 Glass의 오염이나 스크래치 등의 Defect를 검출하는 장비
Glass Stone 검사기
광학장비를 이용하여 Glass Stone을 검출해내는 비 접촉 검사 장비
Imprint Adapter
광학장비를 이용하여 PCB 상, 하판의 Mark를 인식하고 Alignment 후 합착시키는 장비
SFI
고해상도 Camera를 이용하여 Solar Cell 제품의 생산 공정 상 이상 발생 여부를 모니터링하는 장비
TS AFVI
반도체 칩을 장착하는 얇은 테이프 형태의 기판에 발생하는 불량을 검출하는 장비
OCR
Inline 모니터링 자동 검사기로서 OCR Direct Bonding 가경화 상태에서 각종 불량 검사를 진행하는 장비
Exposure
LCD에 Mask Pattern을 Printing하거나 RGB를 적층시키는 장비
GDS
Magnetic Sensor를 이용하여 Gate/Data 간 Short를 비 접촉 전기 검사방식으로 검출하는 LCD 검사장비
RTMS
OS Tester의 검사 이력 조회 및 Tact Time 조회를 위한 시스템
LOS
TFT Panel의 Active Area에 존재하는 Open이나 Short를 검출하는 장비
SPR
Magnetic Sensor를 이용하여 Gate/Vcom 간 Short를 비 접촉 전기 검사방식으로 검출하는 LCD 검사장비 SPTN – 광학장비를 이용하여 LCD Glass에 존재하는 이물을 검출하는 비 접촉 검사 장비