Ama – TFT/CF 공정상 발생하는 얼룩을 검출하는 장비

CRP – CVD Laser를 이용한 LCD Repair 장비

RPR – 타 검사장비에서 검출한 Defect를 Review하여 Laser Repair 가능여부 확인 후 Defect를 암점화하는 장비

CTM of PES – PES(Panel Electronics Signal)의 접촉 검사 장비

Encap Inkjet – Encap PCL을 Ink 분사 방식으로 Coating하는 장비

Bezel Inkjet – Panel TFT면의 외곽 Bezel영역에 차광용 Black Ink를 분사하는 장비

OLED Lighting Inkjet – OLED 조명의 편광 필름을 대체하는 공정 장비

SC Inkjet – 휴대폰 후면 Cover Glass를 Coating하는 장비

PEG Glass Inspector – 고해상도 Camera를 이용하여 Glass의 오염이나 스크래치 등의 Defect를 검출하는 장비

SFI – 고해상도 Camera를 이용하여 Solar Cell 제품의 생산 공정 상 이상 발생 여부를 모니터링하는 장비

TS AFVI – 반도체 칩을 장착하는 얇은 테이프 형태의 기판에 발생하는 불량을 검출하는 장비

OCR – Inline 모니터링 자동 검사기로서 OCR Direct Bonding 가경화 상태에서 각종 불량 검사를 진행하는 장비

Exposure – LCD에 Mask Pattern을 Printing하거나 RGB를 적층시키는 장비

GDS – Magnetic Sensor를 이용하여 Gate/Data 간 Short를 비 접촉 전기 검사방식으로 검출하는 LCD 검사장비

Glass Stone 검사기 – 광학장비를 이용하여 Glass Stone을 검출해내는 비 접촉 검사 장비

Imprint Adapter – 광학장비를 이용하여 PCB 상, 하판의 Mark를 인식하고 Alignment 후 합착시키는 장비

LOS – TFT Panel의 Active Area에 존재하는 Open이나 Short를 검출하는 장비

RTMS – OS Tester의 검사 이력 조회 및 Tact Time 조회를 위한 시스템

SPR – Magnetic Sensor를 이용하여 Gate/Vcom 간 Short를 비 접촉 전기 검사방식으로 검출하는 LCD 검사장비 SPTN – 광학장비를 이용하여 LCD Glass에 존재하는 이물을 검출하는 비 접촉 검사 장비